Izdelki za astronomske mreže za profesionalce (5)

DataTrace - Micropack III Zapisovalnik Podatkov

DataTrace - Micropack III Zapisovalnik Podatkov

Datenlogger für die Druck-Überwachung in Sterilisationsprozessen und Pasteurisationsprozessen
Merilni Mikroskop MS1

Merilni Mikroskop MS1

Valuable, portable measuring microscope with integrated coaxial and angular incident illumination. steady, anodized aluminium body focussing by knurled ring and fine-pitch thread transformer with LED or battery LED lamp Magnifications:20x tos 800x Fields of view:8.9 mm to 0.35 mm Measurement range:Z 8 mm
Merski sistem CoMeT - EMC merilna tehnologija

Merski sistem CoMeT - EMC merilna tehnologija

System CoMeT służy do pomiaru skuteczności ekranowania (impedancji przenoszenia, tłumienności ekranowania i tłumienności sprzężenia) kabli koncentrycznych i symetrycznych, złącz, tulei, elementów rozdzielczych itp. Oryginalny CoMeT (Coupling Measuring Tube) stał się kompletnym systemem. Zasadniczo kablowa stacja pomiarowa składa się z następujących elementów podstawowych: Oprócz systemów rur okrągłych o różnych wymiarach dla kabli i złączy, istnieją również tzw. cele "triaxialne", które oferują większą objętość komory pomiarowej dla części, które ze względu na swoją geometrię (gniazda, rozdzielacze, itp.) nie mogą być wprowadzone do jednej z rur.
Mikroskopi s LIBS spektrometrom - Rešitev za analizo sestave mikrostrukture DM6 M LIBS

Mikroskopi s LIBS spektrometrom - Rešitev za analizo sestave mikrostrukture DM6 M LIBS

Inspectez visuellement et analysez chimiquement en une seule étape de travail avec votre solution d'analyse des matériaux LIBS DM6 M. La fonction de spectroscopie laser intégrée fournit la composition chimique de la microstructure que vous voyez sur l'image du microscope - en une seconde. Accélérez votre flux de travail. Le module LIBS transforme un microscope optique Leica en une solution en une seule étape qui combine inspection visuelle et analyse chimique directement sur votre lieu de travail. Déterminez la composition de ce que vous avez identifié visuellement en quelques secondes. Utilisez la SLP pour effectuer des analyses de matériaux avancées 90 % plus rapidement que l'inspection par SEM/EDS. La contamination de surface ou les revêtements peuvent également être facilement enlevés. La cartographie chimique et le micro-perçage sont d'autres étapes analytiques.
Prilagojen sistem pozicioniranja s stojalom za OEM mikroskop

Prilagojen sistem pozicioniranja s stojalom za OEM mikroskop

stable granite and iron cast stand with manual z-adjustment high performance stepper motion controller with joystick and serial interface XY Stage GT8, Rotary Stage RT5, Wafer-Chuck WC6 precise xy stage GT8 with 200 x 200 mm stroke rotary stage RT5 with high round- and flat runout below 5 µm wafer-chuck WC6 for 4-12" wafer wafer-chuck with vacuum-fixture for 12", 10", 8", 6" and 4" wafer